單晶硅太陽能 選購指南
單晶硅光伏組件IEC61730報告檢測公司安全性能測試
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自動光譜橢偏儀
光譜橢偏儀(PH-SE型)針對太陽能電池應(yīng)用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機(jī)基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。 針對太陽能電池應(yīng)用的光譜橢偏儀基于最佳的橢偏光路設(shè)計，高靈敏度探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，可測量各種太陽能電池的薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)，光學(xué)帶寬等。 光譜橢偏儀 - 產(chǎn)品特點 ■ 連續(xù)波長的光源為用戶提供了更大的應(yīng)用空間 ■ 更簡便快捷的樣品準(zhǔn)直方法 ■ 軟件具備豐富的材料數(shù)據(jù)庫......
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