射頻測(cè)試儀 選購(gòu)指南
進(jìn)口儀器買(mǎi)賣(mài)HP4287A回收Agilent4287A射頻測(cè)試儀HP4288A
進(jìn)口儀器HP4287A回收Agilent4287A射頻測(cè)試儀135-9019-7610李生 簡(jiǎn)述： HP4287A射頻測(cè)試儀LCR在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確，可靠和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反向測(cè)量技術(shù)不同，采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測(cè)量。 HP4287A生產(chǎn)率高，質(zhì)量可靠 HP4287A適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。4287A的測(cè)量非�？�。此外，在小測(cè)試電流(100μA)優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因?yàn)?.....
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