硅片厚度
所有分類下結(jié)果進(jìn)口無接觸硅片測試儀
[中介]產(chǎn)品介紹
手動硅片測試儀可以測量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度，該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設(shè)計都符合ASTM(美國材料實驗協(xié)會)和Semi標(biāo)準(zhǔn)，確保與其他工藝儀器的兼容與統(tǒng)
無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)
[中介]PV-1000系列無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)為太陽能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（總厚度變化）TTV、翹曲及無接觸電阻率測量功能。并提供基于TCP/IP的數(shù)據(jù)傳輸接口及基于Windows的控
硅片厚度測厚儀
[中介]硅片測厚儀(HS-WTT)
適用于量程范圍內(nèi)的硅片等各種材料的厚度精確測量。
特征
液晶顯示
接觸式測量
手動測量模式
數(shù)據(jù)實時顯示
具有輸出接口，可選配適配器實現(xiàn)232接口功能
技術(shù)指標(biāo)
測
半自動硅片厚度TTV測試儀
[中介]特征
■適用于硅片等各種材料的厚度TTV精確測量
■測量范圍：0～2mm
■分辨率：0.1μm
■微電腦控制、液晶顯示
■菜單式界面、PVC面板操作
■接觸式測量
■測頭自動升降
■手動、自動雙重測量模式
進(jìn)口無接觸硅片測試儀
[中介]產(chǎn)品介紹
手動硅片測試儀可以測量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度，該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設(shè)計都符合ASTM(美國材料實驗協(xié)會)和Semi標(biāo)準(zhǔn)，確保與其他工藝儀器的兼容與統(tǒng)
無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)
[中介]PV-1000系列無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)為太陽能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（總厚度變化）TTV、翹曲及無接觸電阻率測量功能。并提供基于TCP/IP的數(shù)據(jù)傳輸接口及基于Windows的控
硅片厚度測厚儀
[中介]硅片測厚儀(HS-WTT)
適用于量程范圍內(nèi)的硅片等各種材料的厚度精確測量。
特征
液晶顯示
接觸式測量
手動測量模式
數(shù)據(jù)實時顯示
具有輸出接口，可選配適配器實現(xiàn)232接口功能
技術(shù)指標(biāo)
測
半自動硅片厚度TTV測試儀
[中介]特征
■適用于硅片等各種材料的厚度TTV精確測量
■測量范圍：0～2mm
■分辨率：0.1μm
■微電腦控制、液晶顯示
■菜單式界面、PVC面板操作
■接觸式測量
■測頭自動升降
■手動、自動雙重測量模式
