Acculogic飛針測試儀
概述:ACCULOGIC是唯一一家使用自己的邊界掃描工具的飛針測試設(shè)備提供商。ACCULOGIC飛針測試儀用于測試電子器件,電路板和系統(tǒng)。
Acculogic FLS980 飛針測試儀
Acculogic flying probe testers
Acculogic先進(jìn)的產(chǎn)品,F(xiàn)LS980系列飛針測試儀、ICT7000內(nèi)部電路測試儀和ScanNavigator邊界掃描測試套件,這些產(chǎn)品是先進(jìn)的,可擴(kuò)展的解決方案用來解決廣泛的測試挑戰(zhàn)。
Acculogic系統(tǒng)可用來適應(yīng)各種各樣的應(yīng)用和客戶。我們高性能測試系統(tǒng)的核心是可以接受下一代測試的挑戰(zhàn)。
FLS980 Series III 產(chǎn)品特點(diǎn)
全功能雙邊系統(tǒng)
閉環(huán)AccuFastTM系統(tǒng),最小1um的步進(jìn)精度,正負(fù)10um定位重復(fù)性
最高可配置22組閉環(huán)飛針
可程序控制探針角度正負(fù)6度
電測試能力強(qiáng),包含模擬信號、數(shù)字信號、混合信號和邊界掃描
先進(jìn)的激光、光學(xué)和熱測量以及檢視能力
帶電和功能測試(可至GHz頻率范圍)
通過固定旋釘最高可至128個(gè)非復(fù)用測試通道
潛伏開路探測
逆向工程工具套件
最大可支持32”x 38” (813 x 965 mm) 電路板
測試入口
不斷縮小的部件尺寸和更密集的芯片級封裝技術(shù)對測試工程師提出了新的挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)上安裝在pcb上的測試板正在從許多設(shè)計(jì)中消失,從而減少物理測試入口。. 為了迎接新的挑戰(zhàn),飛行探測器必須以良好的精度進(jìn)行操作。FLS980采用高度可重復(fù)的閉環(huán)直線電機(jī)驅(qū)動(dòng)器和類似于操縱桿的可變角度探頭模塊,實(shí)現(xiàn)了良好的物理探測,并保證了像01005s這樣的小部件的可重復(fù)探測. FLS980在被測單元(UUT)的組件和焊點(diǎn)一側(cè)提供雙面探測和最多22個(gè)探頭模塊,以促進(jìn)有效率的單次測試。
精確
高分辨率基準(zhǔn)攝像機(jī)和激光考慮了翹曲因素,允許在X, Y和z平面的可測試板區(qū)域進(jìn)行精確的板檢測。精密閉環(huán)平面直線電機(jī)(shuttles)與AccuFastTM驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)(1微米最小步長,10微米定位重復(fù)性)獨(dú)立移動(dòng)探針模塊和攝像機(jī)。探測模塊利用等長度的同位探針接觸UUT上的目標(biāo)點(diǎn)。每個(gè)可變角度探測模塊都可以從任意方向從0到6自動(dòng)調(diào)整探測角度。結(jié)合獨(dú)立的shuttle和探測模塊(XYZ)運(yùn)動(dòng),確保良好的測試點(diǎn)的可測性,F(xiàn)在,你可以依靠FLS980來測試板,即使它的布局、尺寸或技術(shù),使傳統(tǒng)的在線測試和其他飛針測試成為障礙。
探測角度
印刷電路板的翹曲是SMT電路板裝配、檢驗(yàn)和測試過程中需要考慮的一個(gè)常見問題。在飛行探針測試中,板翹曲導(dǎo)致偏移而改變了目標(biāo)點(diǎn)的物理位置。
當(dāng)探測角度為0度時(shí),板曲不會造成探測誤差,但隨著探測角度的增大,探測誤差也增大。使用15度探測角度在0.5毫米翹曲的板上不能可靠地探測到 0201器件的標(biāo)準(zhǔn)焊盤。將探測角度降低到3或4度可以減少與翹曲相關(guān)的不確定性,并得到可靠的探測。FLS980可變角度探測模塊提供良好探測,任意方向從-6度傾斜至+6度,探針定向測試點(diǎn),覆蓋約60mm x 60mm的面積。隨著探測角度的增加,探頭滑移增加。探頭滑移會損壞焊盤和過孔,并在板上留下不可接受的痕跡。
探針模組類型:
FLS980系統(tǒng)可以在頂部和底部配置最多22根飛針,以確保良好的測試覆蓋率和較小測試時(shí)間。系統(tǒng)有三種類型的飛針模塊可選:
APM 800 先進(jìn)型飛針模組,探測角度可編程。( 0 to +6°)
BPM 700基本型飛針模組,探測角度固定 (+6°)
VPM 600 (+0°) 垂直型飛針模組
系統(tǒng)可配置多種可變角度和固定角度飛針模組.
飛針驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)具有1微米最小步距、10微米定位重復(fù)性的定位分辨率,可在生產(chǎn)環(huán)境中可靠的探測100微米的目標(biāo)尺寸。Acculogic公司將繼續(xù)開發(fā)更高精度的飛針模組和識別系統(tǒng),作為未來的升級.
飛針模組規(guī)格:
3D 可編程角度 : 0° to 6° (+6° 的固定角度的飛針)
速度可編程
飛針尖端半徑: 50 μm – 500 μm
尖端外形可選: 針狀, 杯狀, 圓頂型
最大探測高度: 45mm
最大元件高度: 85mm
速度
行探頭的測試時(shí)間主要取決于測試步數(shù)和飛針運(yùn)動(dòng)的速度。短路測試消耗了很大部分測試時(shí)間。FLS980柔性測量系統(tǒng)提供了一系列的測試策略,包括邊界掃描(JTAG)和NetScanTM,可以在不影響測試覆蓋率和重復(fù)性的情況下顯著減少測試時(shí)間。
測量系統(tǒng)
FLS980 s高速(高達(dá)1000測量/秒)模擬測量系統(tǒng)為所有22根飛針(頂部和底部)提供4線測量能力。所有飛針都可以作為分立和集成模擬數(shù)字器件中的驅(qū)動(dòng)器、傳感器或隔離和集成模擬/數(shù)字元件上的保護(hù)裝置進(jìn)行在線測試。模擬元件測試包括電阻、電容、電感、二極管、齊納、晶體管、場效應(yīng)管、晶閘管、光耦合器、開關(guān)、微調(diào)器、繼電器、保險(xiǎn)絲和連接器等。測試模式包括2線測試、4線測試(以及僅使用兩個(gè)測試點(diǎn)的獨(dú)特的準(zhǔn)4線測試)。使用兩組單獨(dú)可用的刺激/測量資源進(jìn)行開關(guān)測試。此外,可以使用電壓測量模塊對電壓調(diào)節(jié)器和運(yùn)算放大器進(jìn)行通電測試。
[本信息來自于今日推薦網(wǎng)]
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Acculogic先進(jìn)的產(chǎn)品,F(xiàn)LS980系列飛針測試儀、ICT7000內(nèi)部電路測試儀和ScanNavigator邊界掃描測試套件,這些產(chǎn)品是先進(jìn)的,可擴(kuò)展的解決方案用來解決廣泛的測試挑戰(zhàn)。
Acculogic系統(tǒng)可用來適應(yīng)各種各樣的應(yīng)用和客戶。我們高性能測試系統(tǒng)的核心是可以接受下一代測試的挑戰(zhàn)。
FLS980 Series III 產(chǎn)品特點(diǎn)
全功能雙邊系統(tǒng)
閉環(huán)AccuFastTM系統(tǒng),最小1um的步進(jìn)精度,正負(fù)10um定位重復(fù)性
最高可配置22組閉環(huán)飛針
可程序控制探針角度正負(fù)6度
電測試能力強(qiáng),包含模擬信號、數(shù)字信號、混合信號和邊界掃描
先進(jìn)的激光、光學(xué)和熱測量以及檢視能力
帶電和功能測試(可至GHz頻率范圍)
通過固定旋釘最高可至128個(gè)非復(fù)用測試通道
潛伏開路探測
逆向工程工具套件
最大可支持32”x 38” (813 x 965 mm) 電路板
測試入口
不斷縮小的部件尺寸和更密集的芯片級封裝技術(shù)對測試工程師提出了新的挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)上安裝在pcb上的測試板正在從許多設(shè)計(jì)中消失,從而減少物理測試入口。. 為了迎接新的挑戰(zhàn),飛行探測器必須以良好的精度進(jìn)行操作。FLS980采用高度可重復(fù)的閉環(huán)直線電機(jī)驅(qū)動(dòng)器和類似于操縱桿的可變角度探頭模塊,實(shí)現(xiàn)了良好的物理探測,并保證了像01005s這樣的小部件的可重復(fù)探測. FLS980在被測單元(UUT)的組件和焊點(diǎn)一側(cè)提供雙面探測和最多22個(gè)探頭模塊,以促進(jìn)有效率的單次測試。
精確
高分辨率基準(zhǔn)攝像機(jī)和激光考慮了翹曲因素,允許在X, Y和z平面的可測試板區(qū)域進(jìn)行精確的板檢測。精密閉環(huán)平面直線電機(jī)(shuttles)與AccuFastTM驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)(1微米最小步長,10微米定位重復(fù)性)獨(dú)立移動(dòng)探針模塊和攝像機(jī)。探測模塊利用等長度的同位探針接觸UUT上的目標(biāo)點(diǎn)。每個(gè)可變角度探測模塊都可以從任意方向從0到6自動(dòng)調(diào)整探測角度。結(jié)合獨(dú)立的shuttle和探測模塊(XYZ)運(yùn)動(dòng),確保良好的測試點(diǎn)的可測性,F(xiàn)在,你可以依靠FLS980來測試板,即使它的布局、尺寸或技術(shù),使傳統(tǒng)的在線測試和其他飛針測試成為障礙。
探測角度
印刷電路板的翹曲是SMT電路板裝配、檢驗(yàn)和測試過程中需要考慮的一個(gè)常見問題。在飛行探針測試中,板翹曲導(dǎo)致偏移而改變了目標(biāo)點(diǎn)的物理位置。
當(dāng)探測角度為0度時(shí),板曲不會造成探測誤差,但隨著探測角度的增大,探測誤差也增大。使用15度探測角度在0.5毫米翹曲的板上不能可靠地探測到 0201器件的標(biāo)準(zhǔn)焊盤。將探測角度降低到3或4度可以減少與翹曲相關(guān)的不確定性,并得到可靠的探測。FLS980可變角度探測模塊提供良好探測,任意方向從-6度傾斜至+6度,探針定向測試點(diǎn),覆蓋約60mm x 60mm的面積。隨著探測角度的增加,探頭滑移增加。探頭滑移會損壞焊盤和過孔,并在板上留下不可接受的痕跡。
探針模組類型:
FLS980系統(tǒng)可以在頂部和底部配置最多22根飛針,以確保良好的測試覆蓋率和較小測試時(shí)間。系統(tǒng)有三種類型的飛針模塊可選:
APM 800 先進(jìn)型飛針模組,探測角度可編程。( 0 to +6°)
BPM 700基本型飛針模組,探測角度固定 (+6°)
VPM 600 (+0°) 垂直型飛針模組
系統(tǒng)可配置多種可變角度和固定角度飛針模組.
飛針驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)具有1微米最小步距、10微米定位重復(fù)性的定位分辨率,可在生產(chǎn)環(huán)境中可靠的探測100微米的目標(biāo)尺寸。Acculogic公司將繼續(xù)開發(fā)更高精度的飛針模組和識別系統(tǒng),作為未來的升級.
飛針模組規(guī)格:
3D 可編程角度 : 0° to 6° (+6° 的固定角度的飛針)
速度可編程
飛針尖端半徑: 50 μm – 500 μm
尖端外形可選: 針狀, 杯狀, 圓頂型
最大探測高度: 45mm
最大元件高度: 85mm
速度
行探頭的測試時(shí)間主要取決于測試步數(shù)和飛針運(yùn)動(dòng)的速度。短路測試消耗了很大部分測試時(shí)間。FLS980柔性測量系統(tǒng)提供了一系列的測試策略,包括邊界掃描(JTAG)和NetScanTM,可以在不影響測試覆蓋率和重復(fù)性的情況下顯著減少測試時(shí)間。
測量系統(tǒng)
FLS980 s高速(高達(dá)1000測量/秒)模擬測量系統(tǒng)為所有22根飛針(頂部和底部)提供4線測量能力。所有飛針都可以作為分立和集成模擬數(shù)字器件中的驅(qū)動(dòng)器、傳感器或隔離和集成模擬/數(shù)字元件上的保護(hù)裝置進(jìn)行在線測試。模擬元件測試包括電阻、電容、電感、二極管、齊納、晶體管、場效應(yīng)管、晶閘管、光耦合器、開關(guān)、微調(diào)器、繼電器、保險(xiǎn)絲和連接器等。測試模式包括2線測試、4線測試(以及僅使用兩個(gè)測試點(diǎn)的獨(dú)特的準(zhǔn)4線測試)。使用兩組單獨(dú)可用的刺激/測量資源進(jìn)行開關(guān)測試。此外,可以使用電壓測量模塊對電壓調(diào)節(jié)器和運(yùn)算放大器進(jìn)行通電測試。
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