半導體分立器件是組成集成電路的基礎，包含大量的雙端口或三端口器件，如二極管，晶體管，場效應管等。 直流 I-V 測試則是表征微電子器件、工藝及材料特性的基石。通常使用 I-V 特性分析，或 I-V 曲線，來決定器件的基本參數(shù)。微電子器件種類繁多，引腳數(shù)量和待測參數(shù)各不相同，除此以外，新材料和新器件對測試設備提出了更高的要求，要求測試設備具備更高的低電流測試能力，且能夠支持各種功率范圍的器件。分立器件 I-V 特性測試的主要目的是通過實驗，幫助工程師提取半導體器件的基本 I-V 特性參數(shù)，并在整個工藝流程結(jié)束后評估器件的優(yōu)劣。隨著器件幾何尺寸的減小，半導體器件特性測試對測試系統(tǒng)的要求越來越高。通常這些器件的接觸電極尺寸只有微米量級，這些對低噪聲源表，探針臺和顯微鏡性能都提出了更高的要求。

作為數(shù)字源表生產(chǎn)廠家，普賽斯儀表自主研發(fā)的高精度數(shù)字源表，填補國產(chǎn)空白，集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，最大輸出電壓達300V，最小測試電流達100pA，支持四象限工作，因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中:半導體IC或元器件，功率器件，傳感器，有機材料與納米材料等特性測試和分析。